要看礦石用什么顯微鏡？
顯微鏡下礦物的鑒別特征
光學(xué)顯微鏡下不透明礦物的鑒定
礦石顯微鏡下所觀察鉆石表面或內(nèi)部的特征
偏光顯微鏡下透明礦物的鑒定
(1)首先區(qū)分透明礦物與不透明礦物，然后根據(jù)正交偏光顯微鏡下的消光現(xiàn)象分出均質(zhì)體礦物與非均質(zhì)體礦物。
(2)均質(zhì)體礦物的鑒定:均質(zhì)體礦物的特點是在正交偏光顯微鏡下為全消光，錐光條件下無干涉圖。因此對于均質(zhì)體礦物僅能在單偏光顯微鏡下觀察晶形、解理、顏色、突起、糙面、貝克線等。
(3)非均質(zhì)體礦物的鑒定。
1)在單偏光顯微鏡下觀察晶形、解理，測定解理夾角、突起等級等。在正交偏光顯微鏡下觀察消光類型、雙晶、干涉色級序及延性符號等。
2)選擇一個垂直光軸的切面，在錐光條件下根據(jù)干涉圖特點，確定軸性、測定光性符號。若為二軸晶，還可估計2V大小，光差光軸色散等。再換單偏光顯微鏡觀察。并可測定其折光率大小。
3)選擇平行光軸(一軸晶)或平行光軸面(二軸晶)的切面，在正交偏光顯微鏡下測定zui高干涉色級序。如果厚度標(biāo)準(zhǔn)(0.03 mm)，還可以求zui大雙折射率，測定zui大消光 角(單斜晶系)或特定切面的消光角，然后確定方位，并利用此種切面測定顏色的多色性及吸收性，測定折光率及觀察閃突起等。
未知礦物的鑒定程序在應(yīng)用時應(yīng)是靈活的。礦物的特征是多方面的，但在鑒定中要抓住其區(qū)別于其他礦物的重要特征。如鉀礦石、斜長石和石英，根據(jù)它們的突起、雙晶和表面的次生變化，無需錐光系統(tǒng)就可把它們鑒定出來。再如輝石和角閃石，解理夾角及多色性是zui重要的特征。總之熟練掌握各種礦物的典型特征，靈活運用鏡下鑒定方法，可以達到快捷、準(zhǔn)確鑒定透明礦物的目的。
光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡是礦相學(xué)和礦物表征的必備工具。典型的應(yīng)用是對礦物的紋理和解離進行定性、定量分析及測定。大部分巖石和礦物樣品含有光學(xué)各向異性材料。顏色是在顯微鏡下鑒定礦物的zui重要屬性之一。因此，偏光顯微鏡對礦物樣品的鑒定與研究具有十分重要的作用。偏光顯微鏡能夠分析晶粒大小和形狀、結(jié)晶度和巖石礦物形貌，幫助識別各類巖石礦物。
檢測更多的特性
偏光顯微鏡在礦物表征中的廣泛應(yīng)用包括分析多色性、折射率和整體表面形貌，以及孿晶、雜質(zhì)和解理等。巖石形成的條件，如溫度、壓力、形成時的組份、溶液結(jié)晶化或熔體凝固化，都會影響礦物形貌、結(jié)晶及光學(xué)特性，也可以作為我們判定某一特定巖石的成因和來源的依據(jù)。
適用于您特定需求的各種觀察方式
借助透射偏光顯微鏡可以對拋光薄片進行研究，運用正交、錐光、DIC 及相差等各種透射光技術(shù)識別單個晶體和礦物顆粒。對于不透明的礦物，利用明場、暗場、DIC（微分干涉相差）或 C-DIC 等反射光觀察方法，能夠分析比如攣晶的顏色、晶體解理面及形貌等特征。大多數(shù)情況下，在對各向異性材料進行分類時，對錐光觀察獲得的干涉圖像進行分析的價值遠勝于物體本身的圖像信息。